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HAST非飽和高壓加速老化試驗機
本設備廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。更多 +
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HAST高度加速壽命試驗機
更多 +產品名稱：HAST高度加速壽命試驗機
溫度范圍：常溫+20～+200℃（特別定制可達 +300℃、+500℃）
濕度范圍：65%～100%R.H(可調)
壓力范圍：A(壓力表+0.2～2.0kg/cm)；B(壓力表+0.2～3.0kg/cm)；C(壓力表+0.2～3.5kg/cm)
安全保護：試驗時全程檢測超溫超壓保護，第一階段儀表內部超高溫保護，第二階段儀表內部加濕器缺水保護，第二階段加濕管極限溫度保護及第二階段超高壓保護，第三階段緊急泄壓保護，手動泄壓保護，自動泄壓等。
- [新能源產業]太陽能模塊HAST（高度加速壽命）試驗解決方案2020年06月24日 20:22
- 在太陽模模塊規范IEC61215、UL1703所提到的DH（濕熱試驗），條件為85℃/85％R.H./1000小時，時間需要耗時42小時，現今業者甚至提高到1250小時以上，才能夠看到模塊出現退化效應，為了能夠縮短試驗時間，選擇導入HAST（高度加速壽命）試驗手法。
- 閱讀（77） 標簽：
- [技術文章]半導體可靠性測試總結與標準2020年09月05日 15:24
- 根據 JED22-A104 標準，溫度循環 (TC) 讓部件經受極端高溫和低溫之間的轉換。進行該測試時，將部件反復暴露于這些條件下經過預定的循環次數。根據 JESD22-A110 標準，THB 和 BHAST 讓器件經受高溫高濕條件，同時處于偏壓之下，其目標是讓器件加速腐蝕。THB 和 BHAST 用途相同，但 BHAST 條件和測試過程讓可靠性團隊的測試速度比 THB 快得多。
- 閱讀（491） 標簽：
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